Definición de ellipsometry
Técnica para medir el espesor y las propiedades ópticas de películas delgadas sobre un sustrato mediante el análisis de los cambios en la polarización de la luz reflejada desde la superficie..
Ejemplos de uso de ellipsometry
Familiarízate con el uso de "ellipsometry" en varias situaciones a través de los siguientes ejemplos.
Ejemplo
Ellipsometry is commonly used in the semiconductor industry to measure the thickness of thin films.
La elipsometría se usa comúnmente en la industria de semiconductores para medir el espesor de películas delgadas.
Ejemplo
The ellipsometry measurements showed that the film was uniform in thickness across the entire substrate.
Las mediciones de elipsometría mostraron que la película tenía un espesor uniforme en todo el sustrato.
Ejemplo
The accuracy of ellipsometry makes it a valuable tool in nanotechnology research.
La precisión de la elipsometría la convierte en una herramienta valiosa en la investigación en nanotecnología.
Resumen de ellipsometry
La elipsometría [ih-lip-som-i-tree] es una técnica utilizada para medir el espesor y las propiedades ópticas de películas delgadas en un sustrato. Funciona analizando los cambios en la polarización de la luz reflejada desde la superficie. Este método se usa comúnmente en la industria de los semiconductores y la investigación en nanotecnología debido a su precisión.
