ellipsometryの意味
楕円偏光法 [表面から反射した光の偏光の変化を解析することにより、基板上の薄膜の厚さと光学特性を測定する技術].
ellipsometryの使用例
以下の例を通じて"ellipsometry"がさまざまな状況でどのように使われるかを見てみましょう。
例文
Ellipsometry is commonly used in the semiconductor industry to measure the thickness of thin films.
エリプソメトリーは、半導体業界で薄膜の厚さを測定するために一般的に使用されています。
例文
The ellipsometry measurements showed that the film was uniform in thickness across the entire substrate.
エリプソメトリー測定により、フィルムは基板全体にわたって厚さが均一であることが示された。
例文
The accuracy of ellipsometry makes it a valuable tool in nanotechnology research.
エリプソメトリーの精度により、ナノテクノロジー研究において貴重なツールとなります。
📌
ellipsometryの概要
エリプソメトリー[ih-lip-som-i-tree]基板上の薄膜の厚さと光学特性を測定するために使用される技術です。これは、表面から反射された光の偏光の変化を分析することによって機能します。この方法は、その正確さから半導体産業やナノテクノロジー研究で一般的に使用されています。
