ellipsometry 뜻
타원체 측정법 [표면에서 반사되는 빛의 편광 변화를 분석하여 기판 상의 박막의 두께와 광학적 특성을 측정하는 기술].
ellipsometry는 어떻게 사용할 수 있을까요?
아래 예문들을 통해 다양한 상황에서 "ellipsometry"가 어떻게 쓰일 수 있는지 알아보세요!
예문
Ellipsometry is commonly used in the semiconductor industry to measure the thickness of thin films.
Ellipsometry는 일반적으로 반도체 산업에서 박막의 두께를 측정하는 데 사용됩니다.
예문
The ellipsometry measurements showed that the film was uniform in thickness across the entire substrate.
엘립소메트리 측정은 필름이 전체 기판에 걸쳐 두께가 균일하다는 것을 보여주었다.
예문
The accuracy of ellipsometry makes it a valuable tool in nanotechnology research.
엘립소메트리의 정확성은 나노기술 연구에서 귀중한 도구가 됩니다.
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ellipsometry: 핵심 요약
엘립소메트리 [ih-lip-som-i-tree] 기판 상의 박막의 두께와 광학적 특성을 측정하는 데 사용되는 기술입니다. 표면에서 반사된 빛의 편광 변화를 분석하여 작동합니다. 이 방법은 정확도로 인해 반도체 산업 및 나노기술 연구에서 일반적으로 사용됩니다.
